適合元器件測試用設(shè)備

在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

無錫冠亞積探索和研究元件測試系統(tǒng)，主要用于半導(dǎo)體測試中的溫度測試模擬，具有寬溫度定向和高溫升降，溫度范圍-92℃~250℃，適合各種測試要求，解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題，超高溫冷卻技術(shù)可以直接從300℃冷卻。該產(chǎn)品適用于電子元器件的精確溫度控制需求。

無錫冠亞元器件高低溫測試機(jī)在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。這些半導(dǎo)體器件和電子產(chǎn)品一旦投入實(shí)際應(yīng)用，就可以暴露在端環(huán)境條件下，滿足苛刻的軍事和電信可靠性標(biāo)準(zhǔn)。

高精度芯片高低溫測試電子冷熱測試

高精度芯片高低溫測試電子冷熱測試

　　冷卻系統(tǒng)是芯片件中的一個(gè)重要組成部分。因?yàn)閷π酒瑏碚f，不論其工作方式是連續(xù)的還是脈沖的，轉(zhuǎn)化為芯片輸出的能量都只是輸入泵浦燈電能的少部分，而其絕大部分能量都轉(zhuǎn)化為熱損耗，使得芯片工作物質(zhì)溫度升高，且棒內(nèi)增度分布不均勻，這些將直接影響芯片工作物質(zhì)的光學(xué)性能，從而使芯片光束質(zhì)量下降，芯片器件壽命減短，嚴(yán)重時(shí)甚至還會出現(xiàn)芯片碎滅。因此，必須配以相應(yīng)的冷卻系統(tǒng)，對芯片工作物質(zhì)進(jìn)行冷卻，保證芯片器件的正常運(yùn)轉(zhuǎn)。

　　現(xiàn)在沿用的冷卻器是龐大的水冷系統(tǒng)。而半導(dǎo)體芯片冷卻器既能很好地解決芯片冷卻問題，同時(shí)又避免了污染和體積重量過大問題，是一種很有生命力的新型冷卻器。芯片冷卻器有在的問題目前，芯片的冷卻一般多采用液體冷卻的辦法。其示意圖如下：由于水的熱容量大，廉價(jià)易得，故多使用水作為循環(huán)冷卻液。這是一種比較有效的冷卻方法。

　　芯片器所產(chǎn)生的熱量，借助于水泵抽運(yùn)的水流被帶離工作物質(zhì)，通過與蓄水箱里的水熱交換和空氣散熱，達(dá)到冷卻的目的。這里存在兩個(gè)問題，一是冷卻液直接接觸芯片工作物質(zhì)、聚光腔和泵浦燈，容易造成污染，使燈的發(fā)光效率、腔體聚光效率、工作物質(zhì)的吸收效率下降，從而使芯片效率降低。二是在機(jī)載應(yīng)用中，考慮到環(huán)境條件的影響，如高低溫等，還要在液體中增加某些添加劑（如防凍劑等），以解決汽化或凍結(jié)等問題，這樣更增加了污染。加之要有嚴(yán)格的液體密封措施，設(shè)計(jì)加工也必須相應(yīng)提高要求。

高精度芯片高低溫測試在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+250℃）下的電子冷熱測試和其它環(huán)境測試模擬。